F-29 형광 분광 광도계

간단한 설명:

제품 상세 정보

제품 태그

F-29 우수한 광학 설계로 장비의 전반적인 성능을 크게 향상시킵니다.기기의 안정성을 보장하기 위해 형광 기기 생산에 대한 수년간의 경험;국내 사용자의 사용 습관에 최대한 맞춰 보다 심층적인 고객 이해를 제공합니다.

테스트 스펙트럼의 정밀도를 보장하는 고품질 및 고속 스캐닝

특징

파장 범위 200-760nm 또는 0차 광(선택적 특수 광전자 증배관은 200-900nm 확장 가능),

높은 신호 대 잡음비 130:1(물의 라만 피크)

고속 스캐닝 속도 3,000nm/min

주요 기능: 파장 스캐닝, 시간 스캐닝

다중 옵션 액세서리: 고체 반사율 부착물, 편광 부착물, 필터 및 특수 광전자 증배관의 샘플

기능

1. 파장 스캐닝 파장 스캐닝 기능은 주로 형광 강도와 광도의 두 가지 데이터 모드를 포함합니다.샘플의 여기 스펙트럼 및 형광 스펙트럼은 일반적인 방법인 형광 강도 데이터 모델에 의해 얻을 수 있습니다.
2. 시간 스캐닝 시간 스캐닝은 지정된 시간 간격 내에서 시간에 따라 테스트 샘플의 형광 강도 곡선을 수집하는 것입니다.시료의 물리화학적 변화를 모니터링하는 데 사용할 수 있으며 kinetic 방법을 수행할 수 있습니다.
3. 측광 방법은 정량화를 위해 파장 방법을 사용하고 최대 20개의 표준 샘플을 측정할 수 있으며 표준 농도의 각 지점을 통해 다각형 표준 곡선을 그릴 수 있으며 회귀 표준 곡선의 작성은 첫 번째, 두 번째, 세 번째 거듭제곱 곡선을 사용할 수 있습니다. 파선, 상관계수 R과 R2를 동시에 구할 수 있다.
4. 강력한 스펙트럼 처리 기능, 두 개의 스펙트럼을 추가, 빼기, 곱하기 및 나눌 수 있으며 스펙트럼 영역을 계산할 수도 있습니다.스펙트럼 보정 및 셔터 제어 등

명세서

광원 크세논 램프 150W

단색기 여기 및 방출 단색기

분산 요소: 오목한 회절 격자

블레이즈 파장: 여기 300nm, 방출 400nm

파장 범위 200-760nm 또는 0차 광(옵션 특수 광전자 증배관은 200-900nm 확장 가능)

파장 정확도 ± 0.5nm

반복성 0.2nm

가장 빠른 6000nm/min의 스캐닝 속도

대역폭 여기 1,2.5, 5, 10, 20nm

방출 1,2.5, 5, 10, 20nm

측광 범위 -9999 – 9999