LADP-7 패러데이 및 제만 효과의 통합 실험 시스템
실험
1. 제만 효과를 관찰하고 원자의 자기 모멘트와 공간 양자화를 이해한다.
2. 546.1nm에서 수은 원자 스펙트럼 선의 분리와 편광을 관찰합니다.
3. 제만 분할량을 기반으로 전자 전하-질량 비율을 계산합니다.
4. 옵션 필터를 사용하여 다른 수성 스펙트럼 선(예: 577nm, 436nm 및 404nm)에서 제만 효과를 관찰합니다.
5. Fabry-Perot 에탈론을 조정하고 분광학에서 CCD 장치를 적용하는 방법을 알아보세요.
6. 테슬라미터를 사용하여 자기장 강도를 측정하고 자기장 분포를 결정합니다.
7. Faraday 효과를 관찰하고 광소멸법을 사용하여 Verdet 상수를 측정합니다.
명세서
목 | 명세서 |
전자석 | B: ~1400 mT; 극 간격: 8 mm; 극 직경: 30 mm: 축 조리개: 3 mm |
전원 공급 장치 | 5A/30V(최대) |
다이오드 레이저 | > 2.5 mW@650 nm; 선형 편광 |
에탈론 | 직경: 40mm; L(공기)= 2mm; 통과대역: >100nm; R=95%; 평탄도: < λ/30 |
테슬라미터 | 범위: 0-1999 mT; 분해능: 1 mT |
연필 수은 램프 | 방출기 직경: 6.5mm; 전력: 3W |
간섭 광학 필터 | CWL: 546.1nm; 반 통과 대역: 8nm; 조리개: 20mm |
직접 판독 현미경 | 배율: 20배; 범위: 8mm; 분해능: 0.01mm |
렌즈 | 콜리메이팅: 직경 34mm; 이미징: 직경 30mm, f=157mm |
부품 목록
설명 | 수량 |
메인 유닛 | 1 |
전원 공급 장치가 있는 다이오드 레이저 | 1세트 |
자기광학 소재 샘플 | 1 |
연필 수은 램프 | 1 |
수은 램프 조정 암 | 1 |
밀리-테슬라미터 프로브 | 1 |
기계식 레일 | 1 |
캐리어 슬라이드 | 6 |
전자석의 전원 공급 | 1 |
전자석 | 1 |
마운트가 있는 집광 렌즈 | 1 |
546nm에서의 간섭 필터 | 1 |
FP 에탈론 | 1 |
스케일 디스크가 있는 편광판 | 1 |
마운트가 있는 1/4파장판 | 1 |
마운트가 있는 이미징 렌즈 | 1 |
직독 현미경 | 1 |
사진 검출기 | 1 |
전원 코드 | 3 |
CCD, USB 인터페이스 및 소프트웨어 | 1세트(옵션 1) |
577nm 및 435nm에 마운트된 간섭 필터 | 1세트(옵션 2) |
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